| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池 | 波長范圍 | 390～700 nm |
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強(qiáng)度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度，還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈沖源在時域中確定熒光壽命。 當(dāng)熒光物質(zhì)被超短脈沖激發(fā)時，時間分辨的熒光將呈指數(shù)衰減。 時間相關(guān)單光子計數(shù)（tcspc）通常被用作熒光壽命的測量方法，因為它補(bǔ)償了在源強(qiáng)度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說，TCSPC由單個光子雪崩光電二極管 （SPAD）記錄相對于激發(fā)激光脈沖的單個光子的壽命。 重復(fù)記錄多個激光脈沖，并在記錄了足夠多的事件后，研究人員能夠建立所有這些記錄的時間點上事件數(shù)量的直方圖。 然后，可以將該直方圖擬合到的指數(shù)壽命衰減函數(shù)的指數(shù)函數(shù)，并且可以相應(yīng)地提取壽命參數(shù)。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測系統(tǒng)，可以提供低成本檢測通道選項，從而為FLIM研究人員實現(xiàn)超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡，滿足其他應(yīng)用需求。
應(yīng)用領(lǐng)域：
熒光壽命成像的原理：
測試案例：
規(guī)格參數(shù)：
顯微鏡 | - -反射LED照明器，用于明場 - -帶有右手控制的機(jī)械X-Y載物臺 - -自動控制的Z軸位置 - -包括主機(jī)架，平臺板，控制箱，接口電纜，電源線 - -40倍物鏡（其他選項：10倍，20倍，50倍和100倍） - -正置或倒置顯微鏡 |
| 掃描模塊 | - -波長范圍：400～1000 nm - -激光掃描模式：壓電掃描 - -掃描范圍：200μm×200μm（使用40倍物鏡時） - -包括用于光學(xué)圖像采集的15 MP攝像頭（使用40X時，F(xiàn)OV：220μm×150μm） - -包含一個控制器（USB1.1） - -掃描速度：> 100行/秒 |
| 光源 | 皮秒脈沖二極管激光器和驅(qū)動器 -波長：390～700 nm -自由空間/光纖耦合選擇（可選） |
| 濾波片 | 選擇與激光波長相對應(yīng)的濾光片 - -波長范圍：390～700 nm - -可在濾光鏡盒中互換用于相應(yīng)的激光器 |
| 機(jī)身 | - -1個插槽，用于連接激光中性密度（ND）濾鏡或偏振鏡 - -2個用于連接偏振片或波片的插槽 - -1個插槽，用于連接可互換的濾波片套件 - -具有三個激光器空位。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩(wěn)定的光束對準(zhǔn)平臺 |
| 探測器 | 光子檢測效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區(qū)域直徑：50μm - 暗計數(shù)：<250，<100，<50，<25 cps（取 決于探測器的等級） -NIM定時輸出：50 ps - 脈沖后可能性：<3％ |
| 光源驅(qū)動 | -重復(fù)頻率：31.25 kHz～80 MHz -觸發(fā)：-1至+1 V電平（可調(diào)） -頻率范圍：10 Hz～80 MHz -同步輸出：幅度<0.8 mV到50歐姆 |
| 計數(shù)器 | 計時電路 - -檢測通道：1或2 - -時間范圍：25 ps - -觸發(fā)：0～-1200 mV - -計數(shù)率：40 MHz - -標(biāo)記：TTL x4 |
| 軟件 | - -熒光壽命采集和成像 - -頻譜數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式：.txt，.csv - -2D映射數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式：.spm，.csv |
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