| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
QE>95%超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器
高量子效率>95%,低暗計(jì)數(shù)<0.1cps,抖動(dòng)＜25 ps，高計(jì)數(shù)率>70MHz
俄羅斯Scontel新推出的超高效率超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器，其在300nm-3500nm內(nèi)達(dá)到高量子效率>95%，暗計(jì)數(shù)<0.1cps，抖動(dòng)＜25 ps，同時(shí)計(jì)數(shù)率高達(dá)>70MHz，是目前市場(chǎng)上性能優(yōu)良的超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器。此型號(hào)超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器可提供蕞多16通道同時(shí)運(yùn)行，其閉環(huán)壓縮機(jī)制冷，不消耗液氦，針對(duì)不同應(yīng)用提供匹配的產(chǎn)品，可多通道同時(shí)探測(cè)及低成本升級(jí)，且可以根據(jù)您的不同需求我們不僅有如下圖中探測(cè)性能的設(shè)備，還有多模大面積探測(cè)器、超低噪聲探測(cè)器、光子數(shù)分辨探測(cè)器供您選擇。Scontel高效率超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器
隨著我們技術(shù)的發(fā)展，可以根據(jù)用戶(hù)的不同需求，我們也做了更多版本的超導(dǎo)納米線探測(cè)器供客戶(hù)選擇。
例如：中紅外超導(dǎo)納米線探測(cè)器，可達(dá)3.5um，探測(cè)效率>50% ,是中紅外微弱光探測(cè)的理想工具，應(yīng)用于激光雷達(dá)等領(lǐng)域！作為超導(dǎo)單光子探測(cè)器制造商，我們開(kāi)發(fā)出的中紅外超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器超過(guò)了常規(guī)超導(dǎo)單光子探測(cè)器的技術(shù)指標(biāo)。
Scontel高效率超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器
SCONTEL超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器QE>95%主要特點(diǎn)：
•市場(chǎng)性能很好的SNSPD
•閉環(huán)壓縮機(jī)制冷，不消耗液氦
•針對(duì)不同應(yīng)用提供匹配的產(chǎn)品
•可多通道同時(shí)探測(cè)及低成本升級(jí)
•產(chǎn)品安裝/培訓(xùn)/升級(jí)全程服務(wù)
技術(shù)指標(biāo)：
SCONTEL超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器QE>95%根據(jù)需求不同我們可提供以下探測(cè)性能的搭配也可根據(jù)您的參數(shù)要求進(jìn)行定制：
低抖動(dòng)檢測(cè)（Low jitter）-時(shí)間分辨率25ps.
高效檢測(cè)(HED) -高系統(tǒng)效率和時(shí)間分辨率、低噪聲、中等帶寬的蕞佳組合。
超高效檢測(cè)(U-HED) -改進(jìn)的HED版本，運(yùn)行溫度更低，因此在所有參數(shù)方面具有更好的綜合性能。
寬帶寬檢測(cè)（Broadband）-雖系統(tǒng)效率略有下降。但優(yōu)化的光學(xué)腔增加了帶寬
低噪聲檢測(cè)（Low noise）-應(yīng)用可變濾波技術(shù)將設(shè)備的暗計(jì)數(shù)率降低到每秒1/0.1/0.01次,探測(cè)器的光譜響應(yīng)窄得多, 更有新推出的超低噪聲檢測(cè)
對(duì)于SNSPD的每一項(xiàng)參數(shù)，如果您有非常嚴(yán)格的要求，我們可為您進(jìn)行定制——探測(cè)效率可高達(dá)95%、暗計(jì)數(shù)可低至0.1cps（效率保持80%以上）、死時(shí)間低可至2ns，時(shí)間抖動(dòng)可低至20ps，蕞大計(jì)數(shù)率可高達(dá)300-500M。
對(duì)于SNSPD設(shè)備，我們有著有著完善的產(chǎn)品安裝/培訓(xùn)/升級(jí)全程服務(wù)，為您的科研保駕護(hù)航！
SCONTEL超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器QE>95%應(yīng)用領(lǐng)域：
光量子計(jì)算
光子相關(guān)性測(cè)量
量子密碼和QKD激光雷達(dá)
cmos缺陷分析
α，β粒子探測(cè)tcspc
單分子熒光光譜
彈道成像
單等離子體檢測(cè)
自由空間通信
LIDAR
時(shí)間分辨熒光測(cè)量
單量子點(diǎn)熒光光譜
片上量子光學(xué)
單線態(tài)/三線態(tài)氧熒光探測(cè)
皮秒集成電路分析
單電子探測(cè)
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